HAST加速老化試驗箱多層電路板測試
HAST加速老化試驗箱多層電路板測試 HAST加速老化試驗箱多層電路板測試好處
HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化試驗箱是一種常用于電子產品可靠性測試的設備。它可以模擬高溫、高濕環(huán)境，對電子產品進行長時間的加速老化測試。在多層電路板測試中，HAST加速老化試驗箱可以幫助檢測電路板在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。它可以模擬現(xiàn)實生活中可能遇到的惡劣環(huán)境條件，通過加速老化測試，評估電路板在長期使用中是否會出現(xiàn)性能下降、功能失效等問題。
在測試過程中，電路板會被放置在HAST加速老化試驗箱中，然后設定相應的溫度和濕度條件。在高溫高濕的環(huán)境下，電路板會經(jīng)歷長時間的老化過程，通過監(jiān)測電路板的性能指標和功能，可以評估其可靠性和耐久性。
多層電路板測試是電子產品開發(fā)和制造過程中重要的一環(huán)，它可以幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題和缺陷，并提前進行改進和優(yōu)化。通過使用HAST加速老化試驗箱進行多層電路板測試，可以有效提高電子產品的可靠性和穩(wěn)定性，確保其在各種環(huán)境條件下的正常運行。 一、設備用途：
HAST加速老化試驗箱廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產品的耐壓力和氣密性進行測試。
二、設備特點：
1) 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在很大程度上降低了使用故障率。
2) 獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
3) 門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4) 試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5) 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.
6) 水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7) tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8) 二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9) 安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10) 偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
11) USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.
三、主要技術參數(shù)：
設備型號： HE-HAST-40
圓形內箱尺寸： 直徑Φ400×深500（mm）
溫度范圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~100% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH
使用壓力： 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
加壓時間： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm2 約 45 分
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內桶材質： SUS316#不銹鋼板
外箱材質： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護： 超壓保護，超溫保護，缺水保護等
水質要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中有以下好處：1. 高效加速老化：HAST試驗箱可以模擬高溫高濕環(huán)境，通過提高溫度和濕度，加速電路板的老化過程。相比于自然老化，HAST試驗可以在較短的時間內提供更快的老化速度，加快產品開發(fā)和測試周期。
2. 發(fā)現(xiàn)潛在問題：通過多層電路板測試，可以及早發(fā)現(xiàn)電路板中的潛在問題和缺陷。HAST試驗可以暴露出電路板在高溫高濕環(huán)境下可能出現(xiàn)的性能下降、功能失效、電氣故障等問題，從而提前采取措施進行改進和優(yōu)化。
3. 提高產品可靠性：通過經(jīng)過HAST加速老化試驗的多層電路板進行測試，可以評估電路板在長期使用中的可靠性和耐久性。這樣可以確保產品在各種惡劣環(huán)境條件下仍然能夠正常運行，提高產品的可靠性和穩(wěn)定性。
4. 節(jié)省成本和時間：通過使用HAST試驗箱進行多層電路板測試，可以在短時間內獲得可靠的測試結果。這樣可以減少產品開發(fā)和測試周期，提高生產效率，同時也能夠減少因產品在實際使用中出現(xiàn)問題而導致的維修和返工成本。
總的來說，HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中可以提供高效的加速老化測試，幫助發(fā)現(xiàn)潛在問題，提高產品可靠性，同時也能夠節(jié)省成本和時間。
- 上一篇：模擬高原海拔高度試驗箱電子電器測試
- 下一篇：真空檢漏箱食品
